電池
測試儀
數(shù)字
電橋
電容
測試儀
電感
測試儀
阻抗
分析儀
0519-86585866
ZX8210系列高頻精密阻抗分析儀：使用自動平衡電橋技術及
四端對開爾文測試端、測量頻率范圍涵蓋20Hz~30MHz，***小分辨
率1mHz，基本測量精度可達0.05%。
ZX8210同時具有阻抗分析儀的繪圖功能和LCR表測量功能，
其高精度、寬頻率范圍可以滿足元件與材料大部分低壓參數(shù)的測
量要求，可廣泛應用于諸如電感器、電容器、電阻器、傳聲器、
諧振器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行阻抗性能的研
究分析及生產(chǎn)線QC檢驗。
自動平衡技術電橋，4端對開爾文測試端
可選配內部±40V偏置電壓源
簡體中文、英文操作語言
分檔測量、列表掃描、繪圖掃描、開路、短路、負載校正等等功能
繪圖掃描無繼電器跳動噪聲及等待延時
配備電導率o·介電常數(shù)E的運算功能
進行測試數(shù)據(jù)、測試條件保存（U盤或內部）
繪圖掃描圖像直接拷屏到U盤功能
加強的測試端保護功能
USB、GPIB、RS232、LAN等上位機連接接口
自動平衡電橋技術
以往低端簡化的運放阻抗測量電路如下圖：
以上電路在實際運作時，隨著頻率的升高，虛地點會越來越不理想，導致流過被測件DUT的電流信號不能全部進入IV轉換標準電阻Rr，所以會造成測量誤差越來越大。
而ZX8210使用的自動平衡電橋測試原理，把上圖簡易的測量運放改進成：Lot檢零電路，0度90度數(shù)字檢相及調制解調電路，
Lcur高頻驅動電路等等組成的矢量負反饋網(wǎng)絡。從而保證了測量電路的虛地端更接近理想。下面2圖是簡易運放阻抗測量電路以及自動平衡電橋阻抗測量電路Lcur（虛地點）的波形實測對比：
使用簡易運放阻抗測量電路1MHz測量6.8nFLcur（虛地點）實測波形如下：
使用簡易運放阻抗測量電路1MHz測量6.8nFLcur
（虛地點）實測波形
使用自動平衡電橋阻抗測量電路1MHz測量6.8nFLcur
（虛地點）實測波形
以上可見，使用簡易運放阻抗測量電路虛地端電壓峰峰值高達59mV，而使用自動平衡電橋原理的虛地端電壓峰峰值僅為2mV，所以：使用自動平衡電橋的虛地性能遠遠好于使用一個簡易運放做測量的電路。
主要測量頁面
加強的測試端保護功能
一般高頻的阻抗分析儀為了保證其測試端電平的幅度一致性，其測試端非常容易被靜電或被測件殘留電荷沖壞，而這些進口儀器是非常昂貴的。
為了防止將被充電電容錯誤的連接到測量端口，ZX8210優(yōu)化和強化從電容的放電電壓中保護內部電路的殘留電荷保護功能。
配備多種接
基本測量精度
與國際業(yè)界標準測試效果對比
ZX8210測量變壓器自諧振頻率SRF：1.19750MHz
ZX8210測量變壓器自諧振頻率SRF：1.19750MHz
以“工匠精神，讓測試更精準”為理念，讓“致新精密”成為
測試測量領域用戶的優(yōu)選品牌
我們以“工匠精神，讓測試更精準”為理念，堅持產(chǎn)品的精益求精 ，持續(xù)為客戶創(chuàng)造價值，不斷努力，讓“致新精密”成為測試測量領域用戶的優(yōu)選品牌。
ZX8210-5M：20Hz-5MHz阻抗分析儀+LCR表
ZX8210-10M：20Hz-10MHz阻抗分析儀+LCR表
ZX8210-15M：20Hz-15MHz阻抗分析儀+LCR表
ZX8210-20M：20Hz-20MHz阻抗分析儀+LCR表
ZX8210-25M：20Hz-25MHz阻抗分析儀+LCR表
ZX8210-30M：20Hz-30MHz阻抗分析儀+LCR表
ZX8210H-1M: LCR Meter, 20Hz~1MHz,40V bias voltage sources
ZX8210H-2M: LCR Meter, 20Hz~2MHz,40V bias voltage sources
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